เครื่องมือทดสอบหน้าสัมผัสและช่องเปิดแบบสั้นของโพรบ

ผู้ซื้อที่เกี่ยวข้อง

อุปกรณ์เซมิคอนดักเตอร์ อุปกรณ์ติดตั้ง ห้องปฏิบัติการ และบริษัทสนับสนุนบรรจุภัณฑ์

ทดสอบและประกอบวัตถุ

การ์ดโพรบหรือฟิกซ์เจอร์หน้าสัมผัสและบอร์ดอ้างอิง

การพัฒนาและการส่งมอบ

ควบคุมการวัดเมทริกซ์การสลับและแรงดันไฟฟ้าต่ำ บันทึกความเสถียรของหน้าสัมผัส และการทำแผนที่ช่องสัญญาณ

ข้อมูลโครงการ

อ้างอิงเครื่องมือวัดทางไฟฟ้า หน้าสัมผัสสายไฟ ช่วงการกระตุ้น และสภาวะอุณหภูมิ

วิธีการยอมรับ

ตรวจสอบการแมปช่องสัญญาณ การเปิดและการลัดวงจร และความต้านทานหน้าสัมผัสตามบอร์ดอ้างอิง ทดสอบความสามารถในการทำซ้ำของพิน/หน้าสัมผัสและสถานะไม่สัมผัส และอย่าใช้การเชื่อมต่อซอฟต์แวร์เพื่อแทนที่การตรวจสอบหน้าสัมผัส

ขั้นตอนการดำเนินการ

การตรวจสอบวัตถุและอินเทอร์เฟซ → ลิงก์อ้างอิงและการยืนยันโซลูชัน → ต้นแบบโมดูลเดี่ยว → การแก้ไขจุดบกพร่องของข้อต่อเครื่องมือและอุปกรณ์ → การตรวจสอบการอ้างอิงซ้ำโดยอิสระ → ซอร์สโค้ด การกำหนดค่า และการส่งมอบบันทึก

การยืนยันสภาพอุปกรณ์และขอบเขต

ขอบเขตอาจรวมถึงแผงควบคุม เฟิร์มแวร์ ไดรเวอร์เครื่องมือ ซอฟต์แวร์โฮสต์ การกำหนดค่ากระบวนการ และบันทึกการทดสอบ อุปกรณ์ติดตั้งทางกล โครงสร้างรับแรงดัน วงจรของไหล วงจรไฟฟ้า และการอ้างอิงทางแสงหรือเสียง จัดให้มีหรือออกแบบแยกกันโดยผู้รับผิดชอบ ข้อมูลจำเพาะของการวัดจัดทำขึ้นผ่านการตรวจสอบความถูกต้องกับอุปกรณ์เป้าหมายและการอ้างอิงที่เป็นอิสระ

ซอร์สโค้ด เอกสารการออกแบบ ใบอนุญาตเครื่องมือ การจัดซื้อ การสนับสนุนนอกสถานที่ และขอบเขตการบำรุงรักษาอย่างต่อเนื่องแสดงอยู่ในเอกสารโครงการ

บริการที่เกี่ยวข้อง

• ดูแค็ตตาล็อกการพัฒนาชุดทดสอบและเครื่องมือวัด
• เซลล์ OCV และเครื่องมือทดสอบการเรียงลำดับความต้านทานภายใน
• แบตเตอรี่ EIS เครื่องมืออัตโนมัติและการเปรียบเทียบผลลัพธ์
• ขั้วต่อการชาร์จต้านทานการสัมผัสและการควบคุมการทดสอบการเพิ่มขึ้นของอุณหภูมิ