Coordenadas vinculadas, status de queda da agulha e teste de instrumento, mapeamento de resultados de wafer de saída
Compradores aplicáveis
Equipamentos semicondutores, luminárias, laboratórios e empresas de suporte de embalagens
Objetos de teste e montagem
Estações de sondas, instrumentos de medição e mapas de wafer fornecidos pelo cliente
Desenvolvimento e entrega
Coordenadas vinculadas, status de queda da agulha e teste de instrumento, mapeamento de resultados de wafer de saída
Entrada do projeto
Instituições e instrumentos existentes, identidades de amostra, filas/intertravamentos e regras de fallback de falha
Método de aceitação
Mapa de wafer corrigido, coordenadas da estação de sonda e configuração do instrumento, verificação de permissão de movimento/queda de pino, acionamento de teste, mapeamento de posição para resultado e fallback de falha.
Etapas de implementação
Verificação de objeto e interface → Link de referência e confirmação da solução → Protótipo de módulo único → Depuração conjunta de instrumentos e equipamentos → Reinspeção de referência independente → Código fonte, configuração e entrega de registros.
Condição do equipamento e confirmação do escopo
O escopo pode incluir placas de controle, firmware, drivers de instrumentos, software host, configuração de processos e registros de testes. Dispositivos mecânicos, estruturas de suporte de pressão, circuitos de fluidos, circuitos de potência e referências ópticas ou acústicas são fornecidos ou projetados separadamente pelos responsáveis. As especificações de medição são estabelecidas através de validação com o equipamento alvo e referências independentes.
O código-fonte, os documentos do projeto, o licenciamento do instrumento, a aquisição, o suporte no local e o escopo da manutenção contínua estão listados nos documentos do projeto.
Perguntas frequentes
Quais condições de entrada são necessárias para esta tarefa?
Instituições e instrumentos existentes, identidades de amostra, filas/intertravamentos e regras de fallback de falha
Como aceitar esta tarefa?
Mapa de wafer corrigido, coordenadas da estação de sonda e configuração do instrumento, verificação de permissão de movimento/queda de pino, acionamento de teste, mapeamento de posição para resultado e fallback de falha.
Posso delegar apenas a interface do instrumento ou o software de teste?
O escopo pode abranger um driver de instrumento individual, aquisição, controle de processo, cálculo de dados ou módulo de interface de usuário. A integração completa do equipamento requer um acordo separado sobre responsabilidades mecânicas, elétricas, de método e do local.
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